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首頁-產品展示-SEM臺式掃描電鏡-SNE-4500M Plus-SNE-4500M Plus賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡

賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡

更新時間：2024-08-23

產品型號：SNE-4500M Plus

簡要描述：賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡：賽可(SEC)SNE-4500M Plus臺式掃描電鏡是一款一款高性能，高配置的產品。

  • 企業(yè)實力

    Enterprise Strength

  • 有效保修

    Valid Warranty

  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡簡介：

SNE-4500M Plus是一款高性能，高配置的產品。


賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡主要特點：

1.Option: 冷臺（可達到-20°C）：

搭載冷臺防止含水樣品的脫水，維持樣品原貌，實現長時間對含水樣品的觀察和分析。


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2.高性能臺式掃描電子顯微鏡：

SEC臺式電鏡最大放大倍率(底片放大倍率)為15萬倍, 可實現分辨率5nm@30kV(SE), 為目前同類臺式電鏡中最高分辨率。
寬泛的加速電壓范圍(1KV-30KV), 適合各種樣品的形貌觀察及元素分析，適用范圍廣。


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1）配置頂部CCD相機 ：具備彩色光學圖像導航功能，1:1彩色照片導航，便于尋找樣品，使操作變得更簡單。

2）5軸全自動樣品臺 Recipe Function：實現X、Y、Z、R（旋轉）和T（傾斜）五軸的自動移動，有利于多角度精細地觀察樣品。-45°~90°大范圍的傾斜角度，可以在不更換特定樣品臺的情況下直接進行截面觀察。

3）Recipe Function：可保存6個觀察位置的坐標信息，并可同時記錄當時的觀察條件，以便用戶對有價值的區(qū)域進行二次觀察和分析。


3.EDS System：

EDS（Energy Dispersive X-ray Spectrometer）是一種安裝在SEM（電子顯微鏡）上的分析樣品表面成分的裝置。

利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上，接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。

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4.Ion Sputter Coater：

對樣品表面進行鍍膜（Au/Pt)，提高成像效果的制樣儀器。在樣品表面覆蓋一層導電的金屬薄膜，有效消除荷電反應及電子束對樣品表面的熱量損傷，并提高所需要的二次電子信號量。使非導電樣品的成像效果更加清晰。


*靶材：Au（黃金）or Pt （鉑金）

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